Gambar Unggulan Ellipsometer Eksperimental LCP-25

Elipsometer Eksperimental LCP-25

Deskripsi Singkat:

Polarimeter elips manual menggunakan metode ekstingsi untuk mengukur ketebalan dan indeks bias film, dan secara manual mengatur deviasi dan sudut deviasi proses pengujian. Elipsometri banyak digunakan dalam pengukuran film tipis dielektrik pada substrat padat. Dalam metode pengukuran ketebalan film, alat ini dapat mengukur hingga ketebalan terkecil dan dengan presisi tertinggi.

Kirim email kepada kami

Detail Produk

Label Produk

Spesifikasi

Keterangan	Spesifikasi
Rentang Pengukuran Ketebalan	1 nm ~ 300 nm
Rentang Sudut Insiden	30º ~ 90º , Kesalahan ≤ 0,1º
Sudut Perpotongan Polarisator & Analiser	0º ~ 180º
Skala Sudut Disk	2º per skala
Min. Reading of Vernier	0,05º
Tinggi Pusat Optik	152 mm
Diameter Panggung Kerja	Φ 50 mm
Dimensi Keseluruhan	730x230x290 mm
Berat	Sekitar 20 kg

Daftar Bagian

Keterangan	Jumlah
Unit Elipsometer	1
Laser He-Ne	1
Penguat Fotolistrik	1
Sel Fotolistrik	1
Lapisan Silika pada Substrat Silikon	1
CD Perangkat Lunak Analisis	1
Buku Petunjuk Penggunaan	1