Ellipsometer Eksperimental LCP-25

Deskripsi Singkat:

Polarimeter elips manual menggunakan metode pemadaman untuk mengukur ketebalan dan indeks bias film, dan secara manual mengatur sudut deviasi dan deviasi dari proses pengujian.Ellipsometri banyak digunakan dalam pengukuran film tipis dielektrik pada substrat padat.Dalam metode pengukuran ketebalan film, dapat diukur hingga yang paling tipis dan presisi tertinggi.

Kirim email ke kami

Rincian produk

Tag Produk

spesifikasi

Keterangan	spesifikasi
Rentang Pengukuran Ketebalan	1 nm ~ 300 nm
Rentang Sudut Insiden	30º ~ 90º , Kesalahan 0,1º
Sudut Persimpangan Polarizer & Analyzer	0º ~ 180º
Skala Sudut Disk	2º per skala
min.Bacaan Vernier	0,05º
Tinggi Pusat Optik	152 mm
Diameter Panggung Kerja	50 mm
Dimensi Keseluruhan	730x230x290 mm
Bobot	Sekitar 20 kg

Daftar Bagian

Keterangan	jumlah
Satuan Ellipsometer	1
He-Ne Laser	1
Penguat fotolistrik	1
Sel Foto	1
Film Silika pada Substrat Silikon	1
CD Perangkat Lunak Analisis	1
Instruksi manual	1