Ellipsometer Eksperimental LCP-25
pengantar
Polarimeter elips manual menggunakan metode pemadaman untuk mengukur ketebalan dan indeks bias film, dan secara manual mengatur sudut deviasi dan deviasi dari proses pengujian. Ellipsometry banyak digunakan dalam pengukuran film tipis dielektrik pada substrat padat. Dalam metode pengukuran ketebalan film, itu dapat diukur dengan ketelitian tertipis dan tertinggi.
Spesifikasi
| Deskripsi | Spesifikasi |
| Rentang Pengukuran Ketebalan | 1 nm ~ 300 nm |
| Rentang Sudut Insiden | 30º ~ 90º, Kesalahan ≤ 0.1º |
| Sudut Persimpangan Polarizer & Analyzer | 0º ~ 180º |
| Skala Sudut Disk | 2º per skala |
| Min. Membaca tentang Vernier | 0,05º |
| Ketinggian Pusat Optik | 152 mm |
| Diameter Panggung Kerja | Φ 50 mm |
| Dimensi Keseluruhan | 730x230x290 mm |
| Bobot | Kira-kira 20 kg |
Daftar Bagian
| Deskripsi | Jml |
| Satuan Ellipsometer | 1 |
| Laser He-Ne | 1 |
| Penguat Fotoelektrik | 1 |
| Sel Foto | 1 |
| Film Silika pada Substrat Silikon | 1 |
| CD Perangkat Lunak Analisis | 1 |
| Instruksi manual | 1 |
Tulis pesan Anda di sini dan kirimkan kepada kami
